摘要
提出了一种肖特基二极管的毫米波等效电路模型参数提取方法。该方法利用开路测试结构确定焊盘电容,并结合短路测试结构确定馈线电感;基于直流I-V特性曲线和小信号S参数分别提取了寄生电阻并进行了对比分析;给出了本征元件随偏置电压的变化曲线。在频率高达40 GHz的范围内,截止和导通状态下S参数的模拟与测试数据吻合良好,验证了提取方法的有效性。
基于GaAs的肖特基二极管已被证明是可以应用于太赫兹成像、传感等系统的混频与倍频模块的重要元器
通常情况下,肖特基二极管等效电路模型参数提取方法分为两大
与传统优化提取方法相比,本文提出了一种改进的肖特基二极管毫米波等效电路模型参数提取方法,该方法采用直接提取技术,利用开路测试结构确定焊盘电容,并结合短路测试结构确定馈线电感,利用直流I-V特性曲线和小信号S参数直接提取出寄生电阻,避免了引入额外的测试结构和优化技术。在频率高达40 GHz的范围内,截止和导通状态下S参数的模拟与测试数据吻合良好,验证了提取方法的有效性。

图1 (a)肖特基二极管物理结构,(b)等效电路模型
Fig. 1 (a) Cross-section of Schottky diode,(b) equivalent-circuit model
肖特基二极管必须通过共面波导(CPW)和测试探针连接,为了与GSG结构的测试探针匹配,设计了如
. | (1) |

图2 开路和短路测试结构版图 (a)开路,(b)短路
Fig. 2 Layouts of test structure (a) open, (b) short

图3 开路和短路测试结构的等效电路模型 (a)开路,(b)短路
Fig. 3 Equivalent circuit models of test structure (a) open, (b) short
, | (2) |

图4 直流和交流测试结构版图
Fig. 4 Layouts of test structure
, | (3) |
其中,为反向饱和电流,n为理想因子,为热电势。
在直流I-V特性曲线的线性区域,寄生电阻上的压降可以忽略,因此,
, | (4) |
, | (5) |
这样,根据ln()随变化曲线的斜率a和截距b,可以直接确定理想因子n与反向饱和电流:
, | (6) |
. | (7) |
在大电流情况下,寄生电阻的存在使得二极管的I-V特性曲线发生弯曲,此时寄生电阻上的压降可以表示为:
, | (8) |
根据
, | (9) |
其中,为导通状态下肖特基二极管的Y参数。本征结电阻的计算公式为:
. | (10) |
根据式(

图5 导通状态下的肖特基二极管等效电路模型
Fig. 5 Equivalent circuit model under Schottky diode forward bias condition
, | (11) |
其中,表示截止状态下肖特基二极管的Y参数。

图6 截止状态下的肖特基二极管等效电路模型
Fig. 6 Equivalent circuit model under Schottky diode reversed bias condition
采用分子束外延技术在半绝缘GaAs衬底上制作了GaAs肖特基二极管,肖特基结半径为1 μm。
利用E8363C矢量网络分析仪在1~40 GHz频率范围内对GaAs肖特基二极管的S参数进行测量,直流偏置由Agilent B1500A半导体参数分析仪提供。测量时使用Cascade的共面探针ACP50-GSG-100进行在片测试。

图7 1~ 40 GHz 频率范围内寄生元件随频率变化曲线 (a)焊盘电容,(b)馈线电感
Fig.7 Parasitic elements versus frequency in 1~40 GHz frequency range (a) pad capacitance , (b) feedline inductance

图8 静态电流自然对数ln()随偏置电压的变化曲线
Fig. 8 ln() versus
. | (12) |

图9 总电阻随静态电流倒数1/的变化曲线
Fig. 9 Total resistance versus the bias voltage

图10 本征元件随偏置电压的变化曲线 (a)结电容,(b)结电阻
Fig. 10 Intrinsic elements versus the bias voltage (a) junction capacitance , (b) junction resistance

图11 静态电流随偏置电压变化的模拟结果和测试结果比较曲线
Fig. 11 Comparison of modeled and measuredversus

图12 肖特基二极管模拟结果和测试结果对比曲线 (a)截止状态下S11的实部,(b)截止状态下S11的虚部,(c)导通状态下S11的实部,(d)导通状态下S11的虚部
Fig.12 Comparison of modeled and measured data of Schottky diode (a) real part of S11 under reversed bias condition, (b) imaginary part of S11 under reversed bias condition, (c) real part of S11 under forward bias condition, (d) imaginary part of S11 under forward bias condition
. | (13) |

图13 S11相对误差随频率变化曲线
Fig. 13 Relative error of S11 versus frequency
由
通常,肖特基二极管寄生电阻和零偏结电容的乘积可以用来表征其工作截止频率:
. | (14) |
本文制作的肖特基二极管寄生电阻为7.09 Ω,零偏结电容为24.21 fF,由
本文主要研究了肖特基二极管的毫米波等效电路模型参数提取方法,对比分析了直流法和交流法提取的寄生电阻,给出了寄生元件随频率的变化曲线和本征元件随偏置电压的变化曲线。在1~40 GHz 频率范围内,S参数的模拟与测试结果吻合,验证了提取方法的有效性。
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