杨建荣,俞振中,刘激鸣,汤定元
系统地分析和研究了N型Hg_(0.8)Cd_(0.2)Te晶体电学参数的各种表现,从中归纳出三种霍耳参数反常的Hg_(0.8)Cd_(0.2)Te材料及其霍耳参数随温度和磁场变化的特征。通过实验和理论分析找出这三类材料电参数反常的起因,给出了正确判断材料性能及获取真实反映材料电学特性参数的方法。
杨建荣,俞振中,刘激鸣,汤定元. Hg_(0.8)Cd_(0.2)Te晶体电学参数反常的检测和分析[J].红外与毫米波学报,1990,9(5):].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1990,9(5).]
