包括深中心发光在内的MOCVD-InP的低温光致发光光谱,表明了非故意掺杂外延层较高的纯度,初步判別了可能引入的杂质,并证明了电学测量与光学测量的一致性。
舒占永,杜明泽,蒋红,洪春荣,元金山,金亿鑫,张新夷. MOCVD—InP的低温光致发光光谱[J].红外与毫米波学报,1989,8(2):].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1989,8(2).]
